将同步辐射水平的分析能力带入您的实验室
我们的系统
Sigray团队开发的实验室X射线仪器,用于研究微观结构、化学态和成分。这些仪器采用专利技术的超高亮度X射线源和高效X射线聚焦光学技术。
QuantumLeap XAS
首款具备亚eV分辨率和荧光模式的商用 XAS 系统,最高能量可达25keV。有两种型号: 用于低Z元素分析的带真空腔室系统和具有荧光 XAS 功能的常压系统。
AttoMap μXRF
市场上分辨率最高的 microXRF,空间分辨率可达 3-5μm。具备超高灵敏度,可实现亚 ppm 元素面扫描和定量分析。
Apex XCT
超高(10-100倍)吞吐量、高分辨(0.5μm) X射线CT,专为半导体和电池应用而设计,采集时间最短仅几分钟即可实现6-12寸晶圆和大尺寸电路板亚微米3D检测。
EclipseXRM
最高空间分辨率≤300nm;最具灵活的系统设计,拥有双光源配置和多种探测器组合可选;可实现多光谱准单色光成像;具有多种衬度成像机制,包括吸收和相位衬度。
TriLambda
分辨率最高的实验室3D X射线显微镜,分辨率最高可达35nm。具有在3种不同能量之间切换的功能(例如1.7 keV、 5.4 keV 和8 keV)。
我们的宗旨
为国内用户提供最先进的X射线分析和成像仪器及其附件,助力用户成功,助力国内科技和工业进步。
我们提供的实验室X射线系统具有与同步辐射线站系统相媲美的强大性能。同步辐射光源为世界上最尖端的研究提供超高亮度的X射线束。然而,同步辐射设施的机时非常有限。Sigray开发的突破性的X射线组件和X射线系统,包括X射线显微镜、微束X射线荧光和X射线吸收光谱,将同步辐射水平的分析能力带入普通实验室。
应用领域
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半导体中的X射线应用
Sigray的X射线解决方案包括3D X射线显微镜(XRM)和真空环境下的微束X射线荧光(microXRF)系统。这些系统用于一系列半导体应用,包括从晶圆污染检查和硅侧工艺监控到封装失效分析的所有应用。
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材料科学中的X射线应用
材料科学是一门广泛的学科,涵盖从聚合物到金属的所有领域。该学科的范围可以以材料学四面体展示,其四个顶点代表加工、结构、性质和性能,而表征位于其中心。
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电池
X射线提供了对能源材料故障机制和寿命的关键洞察力,因为它们可以在电池运行中(原位地)或随时间推移提供电池结构、化学和成分的无损测量。正因如此,同步辐射方法对于现有锂离子电池的改进以及锂硫和锂空电池等新型能源方案的开发至关重要。
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地质学和矿物学中的X射线应用
Sigray的AttoMap microXRF系统是一种新型的自动化的矿物学解决方案,可提供低至 3-5 µm空间分辨率的痕量级元素分布图。对于石油天然气勘探(数字岩心物理学),Sigray的3D X 射线显微镜(EclipseXRM 和 TriLambdaXRM)为原位的三相流动和岩石孔隙的多尺度成像提供了多尺度解决方案。
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